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SCreate Dala Technology Co., Ltd.
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手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定

製品詳細

起源の場所: 中国

ブランド名: Screate DALA

証明: CE

モデル番号: F2010-k

支払いと送料の条件

最小注文数量: 交渉可能

価格: Negotiable

パッケージの詳細: 標準包装,顧客の要求に応じて

受渡し時間: 7 - 15仕事日

支払条件: T/Tなど

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仕様
ハイライト:

手持ちの二軸レーザーマイクロメーター

,

10mm ワイヤー 双軸レーザー マイクロメーター

,

手持ちのレーザーマイクロメートル 測定

測定データ:
直径と卵巣,結塊と首
適用する:
電線,鋼線,エナミール銅線など
測定:
0.2~10mm
繰り返し可能性:
±0.1μm
精度:
±00005+0.01%*D) mm
サイズ:
155*140*58mm
動作電源:
24V ±10% 40VA
コミュニケーション:
WIFI,RS485 MODBUS RTU,CAN,PROFINET,PROFIBUS,ETHERNET IP ネットワークを接続する
測定データ:
直径と卵巣,結塊と首
適用する:
電線,鋼線,エナミール銅線など
測定:
0.2~10mm
繰り返し可能性:
±0.1μm
精度:
±00005+0.01%*D) mm
サイズ:
155*140*58mm
動作電源:
24V ±10% 40VA
コミュニケーション:
WIFI,RS485 MODBUS RTU,CAN,PROFINET,PROFIBUS,ETHERNET IP ネットワークを接続する
記述
手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定

高品質のワイヤー生産の信頼できるパートナー

 

F2010-KはDALAが独立して開発した多軸レーザーマイクロメートルで,レーザー difrctionの原理に基づいています.ケーブルなどの産業のための高度に信頼性の高い品質監視ソリューションこの装置は直径と卵状をリアルタイムで測定し,一貫した製品品質を保証します.

F2010-Kは独特の構造とシステム設計により,複雑で厳しい環境でも信頼性と安定性を備えています.生産ラインの自動化に より良い支援を提供.

 
手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定 0
 

 

単軸サンプル採取頻度は10KHz

モーターの走行速度制限がないため,サンプル採取周波数は10KHzに達し,測定対象物のより多くの情報を得ることができます.

手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定 1

 

 

申請

 

手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定 2

 

 

 

タッチスクリーン パソコン 携帯電話

データ管理と表示のための複数の方法をサポートし,ユーザーがニーズに応じて最も適切なアプローチを選択することができます.

手持ちのオバリティ・ダブル・アクシスレーザーマイクロメーター 0.2mm-10mm ワイヤー測定 3

テクニカル仕様

 

モデル F2010-K
2軸
測定データ 直径,卵巣,結塊,首
頻度 10KHz/軸
測定範囲 0.2~10mm
繰り返し可能性(1) について ±0.1μm
精度(2) について ±00005+0.01%*D) mm
欠陥の高さ最小 0.01mm
欠陥の長さ(3) について 0.2mm ((ワイヤの速度120m/min)
0.8mm (ワイヤの速度500m/min)
サイズ 155*140*58mm
動作電源 24V ±10% 40VA
動作温度 5°C~50°C
ディスプレイ LEDディスプレイ
通信港

標準:WIFI,RS485 MODBUS RTU,CAN

オプション:PROFIBUS,PROFINET,EtherNet/IP,EtherCATPI フィードバック制御(4) について

データ収集と分析 (オプション DS14 ZT ディスプレイと制御システム,DMS1000)
容量を超えたアラーム 入手可能
透明モード 入手可能

 

注記:

(1) 100ms のようにスライディングウィンドウを設定,測定センターエリアで φ1mm 丸い棒の外径の繰り返し

(2) 測定領域の φ1mm丸い棒の外径偏差を 100msとして設定

(3) 測定領域で見逃せない最小の欠陥長さを0msで設定する

(4) PI フィードバック制御はオプションですが,注文時に注文する必要があります.

 

 

 

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